1、產品特點：
DECTRIS EIGER2 X/XE光子計數X射線探測器將混合像素科技中的發展成果轉化成卓越的探測性能。歸功于其高達2000Hz的幀率，低于100ns死區時間的無損探測，以及單像素點擴散函數帶來的理想計數統計率，使得該探測器能在線站上采集極為準確的數據。
新型的EIGE2R X/XE 系列探測器可以為要求極為苛刻的同步輻射應用提供的探測性能。具有連續讀數能力以及千赫茲幀速率的成像能力為時間分辨類實驗和XPCS提供了一種全新的手段，使得像ptychography類的慢速掃描成像技術成為可能。高分辨率和連續的衍射實驗受益于較小的成像尺寸，通過X射線的直接轉換可以獲得卓越的點擴散函數。在理想情況下每單位面積的高計數速率可以與持續增加的波束線亮度相匹配。
2、核心優勢：
- 混合成像計數：單光子成像計數模式下的X射線直接轉換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 的點擴散函數
- 無讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應用領域：
-X射線光子相關光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術
- 時間分辨實驗
- 大分子晶體學(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
