品牌德國 Instrument Systems光譜儀型號CAS140D
用途用于輻射和亮度測量的一體化系統 DTS140D NVIS貨期4-6周
產地德國定制根據使用需求搭配相應的光學測量系統
德國Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光譜輻射顯示測量系統
用于輻射和亮度測量的一體化系統 DTS140D NVIS
用于 VCSEL 特性測定的精密系統
用于 UV-LED 生產的參考系統
詳情介紹
德國Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光譜輻射顯示測量系統
CAS 140D – 光測量標準
Instrument Systems 的 CAS 140D 陣列光譜儀被視為弱光源和輻射度的光譜光測量技術的基準。
該產品基于久經考驗的交叉 Cerny-Turner 光譜儀并配備具有冷卻性能的 CCD 探測器，具有以下特色
測量準確度較高和雜散光抑制
再現性和穩定性
積分時間短
CAS 140D 的應用范圍從校準實驗室的標準儀器到生產中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems的一個特定質量屬性是可追溯至PTB和NIST的校準，我們的光譜儀都配備該校準功能。
與廣泛的配件搭配組合，可以將光譜儀升級為一體化系統，適用于各種光譜輻射和光度測量任務。
在校準過程中使用雜散光校正矩陣運算（可選），可進一步降低 CAS 140D 原本就出色的雜散光值。因此，該測量儀器也非常適合 UV-LED 和 LED 光源危害等級（光生物）的測定。
CAS 140D – 產品性能：
作為標準儀器使用
200 – 1100nm 都有相應型號
具有冷卻性能的“薄型背照式"探測器，用于小暗電流
具有強雜散光抑制的光譜儀
4 ms 至 65 s 的積分時間
配件自動識別
綜合性 SpecWin Pro 光譜軟件
測量關聯色溫 (CCT) 和顯色指數 (CRI)
標準色度坐標上 ±0.0015 的可追溯測量不確定性
額外雜散光校正（可選）
面向 LED、照明設備或顯示屏的一體化系統
CAS 140D 是 Instrument Systems 系統解決方案中的重要測量儀器。輔以軟件包（SpecWinPro、LumiSuite）、積分球、測角儀、圖像色度測量儀和廣泛配件，我們針對測量挑戰提供合適的一體化系統，按照您行業的當前標準制定。
無論是需要對個別 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 產品執行輻射或光度測量，還是需要評估基于 LED、OLED 或 μLED 的顯示屏 – CAS 140D 適用于想得到的光度應用以及實驗室和生產挑戰。
CAS 140D – 技術數據
型號 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
|---|---|---|---|---|
光譜范圍 | 200-830 nm | 220-1020 nm 300-1100 nm | 360-830 nm | 380-1040 nm |
光譜分辨率 (100 μm 狹縫) | 3.0 nm | 3.7 nm | 2.2 nm | 3.0 nm |
數據點間隔 | 0.65 nm | 0.8 nm | 0.5 nm | 0.65 nm |
LED 的雜散光 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 |
波長測量精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm |
用于輻射和亮度測量的一體化系統 DTS140D NVIS 通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光譜儀 | CAS 140D 光譜范圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。 |
光學探頭和鏡頭 | 用于 4 種測量點大小的帶機動孔徑輪的 TOP 200 光學探頭，具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校準攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。 |
校準 | 光譜輻射和亮度校準，可追溯至標準 PTB 或 NIST。包括 MIL 證書。 |
軟件 | SpecWin Pro 實驗室軟件，具有各種功能和特殊 NVIS 評估模塊。 |
雜散光矩陣（可選，不屬于 MIL 測試必需配置） | 雜散光矩陣（可選，不屬于 MIL 測試必需配置） |
輻照度光學探頭（可選） | 用于依據 SAE ARP5825（外部照明 NVIS 友好型）標準進行測量 |
定位器（可選） | 手動或全自動定位器/測角儀，例如 DTS 500 |
用于 VCSEL 特性測定的精密系統
VCSEL 具有出色的光束特性，因此適用于關鍵應用。典型示例是通過 LiDAR 進行面部識別。但是，在有人員活動的環境中使用激光二極管，使測定其光束特性變得重要，并對使用的測量系統提出了挑戰。
在 CAS 系列光譜儀高分辨率版本的基礎上，Instrument Systems 提供了針對實驗室 VCSEL 特性測定而進行優化調節的測量系統。借助合適的配件，可滿足不同的個別需求。請與我們聯系！
關鍵特性：
0.12 nm 的出色光譜分辨率
4 ms 以上的積分時間
用于脈沖激光二極管/VCSEL 的陣列光譜儀
測量挑戰
激光二極管通常在很窄的光譜范圍內提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光譜分辨率達 0.1x nm、積分時間達 4 ms 以上的光譜儀，用于實驗室 VCSEL 測量。這些光譜儀的可追溯校準的一個優勢是可從測得的光譜中簡單地計算出輻射通量?；蛘?，該測量系統也可由光電二極管擴展，例如，用于測量脈沖激光二極管的脈沖波形。如果需要測試 ns 范圍的脈沖，可使用系統 (PVT 110)。如果您有此類需求，請聯系我們。
系統配置
實驗室用于測定激光二極管/VCSEL 的輻射通量的一體化系統通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光譜儀 | - 具有 0.2 nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作為配有帶制冷的 CCD 探測器的測量解決方案，可實現穩定性，例如在參考系統中。 - 具有 0.1x nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作為 CAS 140CT-HR 的替代產品。 |
積分球 | - 具有 75 和 100 mm 小內徑的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，適合安裝在處理器和探測器系統中。 - 可選：帶光電二極管的 ISP 100，例如，使用脈沖激光二極管測定脈沖波形特性。 - 替代產品：ISP 150L，內徑為 150 mm，直徑為 50 mm 的測量端口可用于測量較大激光模塊/陣列，帶有借助集成式輔助光源實現的自吸收修正功能。 |
| 校準 | 可追溯至標準 PTB 或 NIST 的校準。 |
軟件 | SpecWin Pro 實驗室軟件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客戶的生產流程中。 |
IR 參考 LED （可選） | ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的參考 LED。為了穩定操作和精度，建議與穩定的 PSU-10 |
用于 UV-LED 生產的參考系統
UV-LED 實驗室測量站用于測試新產品，或為 UV-LED 生產構建參考系統等。為了滿足新測量場景的需要，Instrument Systems 的產品組合中的單個系統組件需要不斷地進行技術改進。
關鍵特性：
200 nm 以上 UV 范圍內的靈敏度測量
可追溯到 PTB 的校準
雜散光水平低
可選：能實現測量準確度的雜散光校正矩陣
測量挑戰
要準確地測量 UV-LED 的輻射通量，需要靈敏的光學測量系統進行輻射特性測定。適用于光功率通常相對較低的 UVB 和 UVC-LED 的頻譜范圍。
系統配置
實驗室用于測定 UV-LED 的輻射通量的一體化系統通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光譜儀 | -CAS 140D-157 (UV-VIS)，光譜范圍為 200-830 nm，在 200 nm 以上 UV 范圍內的靈敏度較好。 |
積分球 | -積分球 ISP50UV、ISP150UV 和 ISP250UV，內徑分別為 50、150 和 250 mm，采用 PTFE 反射材料，200 nm 以上 UV 范圍內具有高光通量。用于放置 LED 測試夾具的套筒板和用于外部輔助光源的 SMA 連接可供實驗室使用。 |
| 校準 | -可追溯至標準 PTB 或 NIST 的校準。 |
軟件 | -實驗室軟件，具有測量 LED 的多項功能 |
UV 參考 LED（可選） | -ACS-570-24、-26、-28：具有 285 nm、315 nm 和 365 nm 的參考 LED，用于測試 UV 測量系統。與穩定的 PSU-10 電源結合使用。 |
雜散光矩陣（可選） | -使用光譜儀特定的數值雜散光校正可實現盡可能較好的雜散光校正。 |
輔助光源（可選） | -LS500 雙光源，使用鹵素燈和氘燈進行自吸收校正。 |
LED 測試夾具（可選） | -帶或不帶主動制冷的制定 LED 測試夾具，為積分球的 LED 套筒板量身制定。 |
用于 VCSEL 特性測定的精密系統
VCSEL 具有出色的光束特性，因此適用于關鍵應用。典型示例是通過 LiDAR 進行面部識別。但是，在有人員活動的環境中使用激光二極管，使測定其光束特性變得重要，并對使用的測量系統提出了挑戰。
在 CAS 系列光譜儀高分辨率版本的基礎上，Instrument Systems 提供了針對實驗室 VCSEL 特性測定而進行優化調節的測量系統。借助合適的配件，可滿足不同的個別需求。請與我們聯系！
關鍵特性：
0.12 nm 的出色光譜分辨率
4 ms 以上的積分時間
用于脈沖激光二極管/VCSEL 的陣列光譜儀
測量挑戰
激光二極管通常在很窄的光譜范圍內提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光譜分辨率達 0.1x nm、積分時間達 4 ms 以上的光譜儀，用于實驗室 VCSEL 測量。這些光譜儀的可追溯校準的一個優勢是可從測得的光譜中簡單地計算出輻射通量?；蛘?，該測量系統也可由光電二極管擴展，例如，用于測量脈沖激光二極管的脈沖波形。如果需要測試 ns 范圍的脈沖，可使用系統 (PVT 110)。如果您有此類需求，請聯系我們。
系統配置
實驗室用于測定激光二極管/VCSEL 的輻射通量的一體化系統通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光譜儀 | - 具有 0.2 nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作為配有帶制冷的 CCD 探測器的測量解決方案，可實現穩定性，例如在參考系統中。 - 具有 0.1x nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作為 CAS 140CT-HR 的替代產品。 |
積分球 | - 具有 75 和 100 mm 小內徑的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，適合安裝在處理器和探測器系統中。 - 可選：帶光電二極管的 ISP 100，例如，使用脈沖激光二極管測定脈沖波形特性。 - 替代產品：ISP 150L，內徑為 150 mm，直徑為 50 mm 的測量端口可用于測量較大激光模塊/陣列，帶有借助集成式輔助光源實現的自吸收修正功能。 |
| 校準 | 可追溯至標準 PTB 或 NIST 的校準。 |
軟件 | SpecWin Pro 實驗室軟件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客戶的生產流程中。 |
IR 參考 LED （可選） | ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的參考 LED。為了穩定操作和精度，建議與穩定的 PSU-10 電源結合使用。 |
德國Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光譜輻射顯示測量系統
