電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀無嚴格要求的特點。因此，目前檢測半導體材料電阻率，尤其對于薄膜樣品來說，四探針是較常用的方法。S型源表搭建四探針法測量半導體電阻率實驗
四探針測試原理
四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。Z后，電阻率通過樣品的幾何參數，輸出電流源和測到的電壓值來計算得出。S型源表搭建四探針法測量半導體電阻率實驗找武漢生產廠家普賽斯儀表
普賽斯儀表S型源表能四線法測電阻嗎？對線纜要求？
?、倏梢缘?，使用其四線測量模式；
?、谒奶结槣y試時一般是恒流測電壓，而所加的電流一般在mA級，所以對線纜基本沒有要求
需要測試的參數：
表面電阻率
需要儀器列表：
S型國產源表
探針臺或夾具
可編程溫箱
軟件
高校相關專業
材料專業
化學專業
武漢普賽斯儀表自主研發的高精度源表（SMU），可以在輸出電流時測試電壓，也可以在輸出電壓時測試電流。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控，測量電壓分辨率 高達微伏級。支持四線開爾文模式，適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到準確的測試結果。
上位機軟件指導電阻率測試步驟，測試方法清晰明確，即使不熟練的工程師也能迅速掌握測試方法。 內置電阻率計算公式，測試結束后直接從電腦端讀取計算結果，方便靈活的做后續處理分析系統主要由源測量單元、探針臺和上位機軟件組成。四探針可以通過前面板香蕉頭或者后面板三同軸接口連接到源表上。
