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> 知識產權 > 專利 > CN3429480D
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微分光學大氣分析儀望遠系統機殼
摘要:
后視圖與主視圖對稱,省略后視圖。
專利類型
外觀專利
申請人
上海精密科學儀器有限公司;
發明人
曹二華;
地址
200233 上海市田林路168號
申請號
CN200330107656.6
申請時間
2003年10月30日
申請公布號
CN3429480D
申請公布時間
2005年03月02日
分類號
10-07;
該申請人其他專利(共192)
反光鏡定位裝置及控制方法
消除文氏振蕩器幅度溫漂影響測量的電路
氣相色譜儀流量壓力自動調節裝置
甘汞電極
可調穩壓閥
火焰離子化檢測器
一種液體自動混合混勻裝置
電子天平(FB214)
氣體六通閥驅動裝置
pH計(PHS-3C)
該分類其它專利(共228)
IC卡智能水表塑料表殼
安全保護閘盒
測頭(數控機床在線測量裝置)
傳感器外殼
傳感器防水外殼
大氣采樣器支架
電波表表盤
電池測試夾具
變送器(9)
環境試驗箱的控制面板盒組件
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