摘要：1．本外觀設計產品的名稱：X射線熒光光譜儀。2．本外觀設計產品的用途：用于獲得試樣X射線光譜，并測量譜線的位置和強度。3．本外觀設計的設計要點：形狀。4．最能表明設計要點的圖片或者照片：立體圖。
- 專利類型外觀專利
- 申請人深圳市禾苗分析儀器有限公司;
- 發明人楊寧波;
- 地址518000 廣東省深圳市南山區南頭關口二路智恒戰略性新興產業園（原安樂工業區綜合樓）27棟2樓B
- 申請號CN201230366441.5
- 申請時間2012年08月06日
- 申請公布號CN302307417S
- 申請公布時間2013年01月30日
- 分類號10-05;
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