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          接觸式半自動IC卡檢測裝置

            摘要:一種接觸式半自動IC卡檢測裝置,包括檢測臺、用于對所述檢測臺上的待檢測卡片進行測試的檢測組件、與待檢測卡片形成接觸的探針檢測組件及控制所述探針檢測裝置與待檢測卡片接觸或分離的電磁制動組件。所述探針檢測組件與所述檢測組件連接,所述電磁制動組件與所述探針檢測組件進行連接。所述電磁制動組件通過電磁力控制所述探針檢測組件在與待檢測卡片垂直的方向上與待檢測卡片接觸或分離。本實用新型的接觸式半自動IC卡檢測裝置采用電磁制動組件驅動接觸式探針檢測組件進行垂直于IC卡芯片的上下運動,解決了傳統讀寫機觸點與芯片的橫向滑動接觸造成劃痕,也無需在印刷后另外增加保護膜的工序。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人武漢天喻信息產業股份有限公司;
          • 發明人魯凡;
          • 地址430000 湖北省武漢市東湖新技術開發區華工大學科技園
          • 申請號CN201220708958.2
          • 申請時間2012年12月20日
          • 申請公布號CN203054112U
          • 申請公布時間2013年07月10日
          • 分類號G01R31/00(2006.01)I;
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