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          用于熒光檢測的光學檢測裝置

            摘要:本實用新型公開了一種用于熒光檢測的光學檢測裝置,本實用新型包括發射光源、光電倍增管、第一濾光片、第二濾光片、光纖;發射光源和光電倍增管安裝在結構A上,第一濾光片、第二濾光片為一組濾光片安裝在結構B上,結構B上有多組濾光片;光纖由兩根小光纖并攏而成,小光纖并攏的一端作為檢測端,另一端分別為發射端和檢測端;發射端將發射光源傳遞到檢測端,接收端將來自檢測端的光傳遞給光電倍增管。光纖的發射端和接收端安裝在不能繞Z軸轉動的結構C上,所述的光纖有多根,多根光纖的檢測端并成一排同時對與光纖并排垂直的方向進行掃描。本實用新型結構A、B可繞Z軸作不同步的轉動;結構B上安裝有多組濾光片,結構C上有多根光纖。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人杭州博日科技有限公司;
          • 發明人胡軍榮;
          • 地址310053 浙江省杭州市濱江區濱安路1192號
          • 申請號CN201220479384.6
          • 申請時間2012年09月19日
          • 申請公布號CN202994660U
          • 申請公布時間2013年06月12日
          • 分類號G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
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