摘要：本實用新型涉及一種用于測定膜狀熒光物質的樣品池，該樣品池為一箱體結構，所述的箱體(1)內腔中空對穿，具有左右二個開口(1a)，在其中任一個開口(1a)的頂部(1b)和底部(1c)各設有若干強磁體(2)，所述的強磁體(2)會使一框形導磁蓋板(3)將涂有熒光物質的薄膜(4)樣品平整地緊扣在該處開口(1a)前，作為測量窗口。本實用新型提供的一種用于測定膜狀熒光物質的樣品池特別適用于以常規熒光測定儀對熒光涂料薄膜的測定，其結構簡單、成本低廉、因此易于推廣使用。
- 專利類型實用新型
- 申請人上海棱光技術有限公司;
- 發明人吳樹恩;曹劍琛;
- 地址200023上海市盧灣區打浦路350號四樓
- 申請號CN200920069514.7
- 申請時間2009年03月27日
- 申請公布號CN201382892Y
- 申請公布時間2010年01月13日
- 分類號G01N21/01(2006.01)I;G01N21/64(2006.01)I;
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