摘要：本發明屬于輻射測量技術領域，具體為一種高純鍺、碲化鋅鎘等輻射測量探測器的效率刻度方法。該方法不需要準確獲得晶體尺寸及靈敏區尺寸，而僅需依據探測器說明書上粗略給出的晶體尺寸，在蒙特卡羅直接計算基礎上結合效率傳遞因子，可快速、準確地實現探測器的無源效率刻度。
- 專利類型發明專利
- 申請人中國輻射防護研究院;
- 發明人劉立業;馬吉增;張斌全;潘紅娟;金月如;張勇;任澤仲;
- 地址030006山西省太原市學府街270號
- 申請號CN200510112535.9
- 申請時間2005年10月10日
- 申請公布號CN1948996A
- 申請公布時間2007年04月18日
- 分類號G01T1/24(2006.01);
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