摘要：本發明涉及輻射測量技術領域，具體涉及一種用于高純鍺探測器無源效率刻度的鍺晶體尺寸自動調整方法。該方法在一個測量位置處，獲得多個不同Ei能量γ射線全能峰探測效率測量值，然后依據探測器產品說明書的晶體原始尺寸，進行蒙特卡羅模擬計算，獲得相應的各Ei能量γ射線全能峰探測效率計算值；對效率計算值與測量值進行誤差分析，通過蒙特卡羅計算獲得當前晶體尺寸下，晶體尺寸T、R、L對E能量γ射線的效率影響公式；設定計算效率期望改變百分比，建立方程組，求解獲得新晶體尺寸，如此循環得到最終結果。本發明可以自動、快速、準確地確定高純鍺晶體及其靈敏區尺寸，從而對高純鍺探測器實現快速蒙特卡羅無源效率刻度提供了有效的保證。
- 專利類型發明專利
- 申請人中國輻射防護研究院;
- 發明人劉立業;馬吉增;張斌全;
- 地址030006山西省太原市學府街102號
- 申請號CN200610149634.9
- 申請時間2006年10月13日
- 申請公布號CN101162269A
- 申請公布時間2008年04月16日
- 分類號G01T1/24(2006.01);H01L31/115(2006.01);
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
