摘要：本發明公開了一種檢測電路板的方法，它是通過微處理器記錄合格電路板上電測試等待時間之內各測試點每一次電位的變化后狀態、變化時的時間和狀態變化次數，掉電測試等待時間之內各測試點每一次電位的變化后狀態、變化時的時間和狀態變化次數；再與通過微處理器記錄待檢測電路板上所述上電測試等待時間之內各測試點每一次電位的變化后狀態、變化時的時間和狀態變化次數，所述掉電測試等待時間之內各測試點每一次電位的變化后狀態、變化時的時間和狀態變化次數；并將兩者檢測數據進行比較，即可判斷所檢測的電路板是否合格。采用上述技術方案，本發明避免了出現主觀產生的誤判現象。根據本發明制作的檢測裝置成本低廉，檢測效率高。
- 專利類型發明專利
- 申請人深圳創維—RGB電子有限公司;
- 發明人吳偉;楊軍治;卓成鈺;
- 地址518106廣東省深圳市八卦嶺工業區425棟
- 申請號CN200310110921.5
- 申請時間2003年11月07日
- 申請公布號CN1614436A
- 申請公布時間2005年05月11日
- 分類號G01R31/28;G01R31/317;
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