摘要：測量物體三維表面輪廓的方法及系統屬于物體三維測量技術領域，其特征在于：它是一種利用相位和立體視覺技術的結合，在物體表面投射光柵，用兩架攝像機拍攝發生畸變的光柵圖像，利用編碼光和相移方法獲得左右攝像機拍攝圖像上每一點的相位。利用相位和外極線實現兩幅圖像上的點的匹配，至此便可利用定標了的攝像機系統，計算點在三維空間的坐標，以實現物體表面三維輪廓的測量。它具有非接觸、速度快、數據量大、精度高、操作簡單、易于實現等優點。對物體的單面測量只要2秒鐘便能得到極高密度的數據，達40萬個點，測量的精度在0.05mm以上。
- 專利類型發明專利
- 申請人清華大學;北京天遠三維科技有限公司;
- 發明人鐘約先;李仁舉;張吳明;馬揚飚;袁朝龍;葉成蔚;
- 地址100084北京市100084－82信箱
- 申請號CN03153504.6
- 申請時間2003年08月15日
- 申請公布號CN1483999A
- 申請公布時間2004年03月24日
- 分類號G01B21/20;G06T15/00;
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