摘要：本發明涉及一種電子元件漏件檢測方法和系統，其中，所述方法包括如下步驟：對獲取的電子元件的電路板的模板圖像和測試圖像分別進行邊緣圖像提取，得到第一邊緣圖像和第二邊緣圖像；對所述第一邊緣圖像和第二邊緣圖像分別進行分區，并對各個分區上的第一邊緣圖像和第二邊緣圖像進行特征提取，得到模板圖像的第一特征參數和測試圖像的第二特征參數；根據第一特征參數和第二特征參數計算所述模板圖像與測試圖像的相似度值；根據所述相似度值對電路板進行電子元件漏件檢測。上述技術方案，通過有效地提高了電子元件漏件檢測的準確率，保證了檢測后的電路板的質量。
- 專利類型發明專利
- 申請人廣州視源電子科技股份有限公司;
- 發明人林建民;
- 地址510663 廣東省廣州市廣州高新技術產業開發區科學城科珠路192號4樓
- 申請號CN201610251817.5
- 申請時間2016年04月20日
- 申請公布號CN105957059A
- 申請公布時間2016年09月21日
- 分類號G06T7/00(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
