摘要：本發明公開了一種熒光檢測儀器的校準方法,用于熒光檢測儀器出廠前的校準，將熒光檢測儀器的光源強度檢測和信號檢測模塊參數校準分兩步獨立進行，光源強度檢測適用光強測量儀測量光強度，信號檢測模塊參數校準使用標準光源作為檢測光源；本發明采用現有的經過計量確定的標準設備進行定標，具有標準可追溯性和確定性，能適合大批量和精確測量；同時本發明方法還可用來做儀器的質控，檢測光源是否會運行時間長衰減，如果光源衰減可以更換光源，本發明提高了量產中熒光檢測儀器的一致性。
- 專利類型發明專利
- 申請人深圳市華科瑞科技有限公司;
- 發明人丁衛東;
- 地址518019 廣東省深圳市羅湖區太白路1038號安琪大廈三樓301
- 申請號CN201610220080.0
- 申請時間2016年04月11日
- 申請公布號CN105928911A
- 申請公布時間2016年09月07日
- 分類號G01N21/64(2006.01)I;
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