摘要：本發明公開了懸浮體系中顆粒物比表面積的測試方法，包括以下步驟：(1)對溶劑進行核磁共振檢測，用金屬浴來控制溶劑的溫度，對溶劑進行CPMG脈沖序列測試，測得溶劑的T2弛豫時間，計算溶劑弛豫率R2f；(2)將顆粒物樣品置于溶劑中得到含有顆粒物的懸浮液；(3)對步驟(2)中含有顆粒物樣品的懸浮液進行核磁共振檢測，用金屬浴來控制懸浮液的溫度，對懸浮液進行CPMG脈沖序列測試，測得顆粒物樣品的T2弛豫時間，根據公式計算懸浮液的平均弛豫率R2＝PbR2b+PfR2f；(4)根據以下公式計算顆粒物的比表面積：Sa＝(R2sp＊R2f)/(Ψ＊Kp)。本發明提供的懸浮體系中顆粒物比表面積的測試方法，能夠測試顆粒物在懸浮狀態下的比表面積。
- 專利類型發明專利
- 申請人上海紐邁電子科技有限公司;
- 發明人楊培強;高楊文;楊翼;后慧云;陳琳;
- 地址200333 上海市普陀區天地軟件園中江路879號1座A308室
- 申請號CN201610383608.6
- 申請時間2016年06月02日
- 申請公布號CN105866159A
- 申請公布時間2016年08月17日
- 分類號G01N24/08(2006.01)I;
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