摘要：一種RTK定位精度的預報方法及系統，獲取電離層TEC預報信息；獲取根據RTK定位精度信息及電離層TEC信息建立的RTK精度模型；所述RTK定位精度信息包括：時間、基線及RTK定位精度；所述電離層TEC信息包括：所述時間、所述基線及電離層TEC；根據所述電離層TEC預報信息及所述RTK精度模型，確定RTK預報精度。通過上述RTK定位精度的預報方法及系統，用戶可以根據電離層TEC預報信息對RTK定位精度進行預測，得到預測結果，即待報時間的RTK預報精度，從而可根據預測結果作進一步處理。
- 專利類型發明專利
- 申請人廣州市中海達測繪儀器有限公司;
- 發明人謝錫賢;方春水;羅澤彬;郭燦樺;廖少翔;
- 地址511400 廣東省廣州市番禺區東環街番禺大道北555號天安總部中心13號樓202房
- 申請號CN201510998676.9
- 申請時間2015年12月24日
- 申請公布號CN105785409A
- 申請公布時間2016年07月20日
- 分類號G01S19/41(2010.01)I;
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