摘要:一種RTK定位精度的預報方法及系統,獲取電離層TEC預報信息;獲取根據RTK定位精度信息及電離層TEC信息建立的RTK精度模型;所述RTK定位精度信息包括:時間、基線及RTK定位精度;所述電離層TEC信息包括:所述時間、所述基線及電離層TEC;根據所述電離層TEC預報信息及所述RTK精度模型,確定RTK預報精度。通過上述RTK定位精度的預報方法及系統,用戶可以根據電離層TEC預報信息對RTK定位精度進行預測,得到預測結果,即待報時間的RTK預報精度,從而可根據預測結果作進一步處理。
- 專利類型發明專利
- 申請人廣州市中海達測繪儀器有限公司;
- 發明人謝錫賢;方春水;羅澤彬;郭燦樺;廖少翔;
- 地址511400 廣東省廣州市番禺區東環街番禺大道北555號天安總部中心13號樓202房
- 申請號CN201510998676.9
- 申請時間2015年12月24日
- 申請公布號CN105785409A
- 申請公布時間2016年07月20日
- 分類號G01S19/41(2010.01)I;