摘要：一種樣品不經過質量流量計進樣的間接計量方法及裝置。主要解決現有的進樣器在分析痕量雜質時質量流量計內壁易吸附痕量雜質而使分析周期過長、質量流量計毛細管堵塞而無法計量的問題。其特征在于：將質量流量計接在放空通路上，進樣時，先走放空通路，控制流量調節閥將流速設定在某一固定值，計量流速μ0；切換到進樣狀態，記錄起始時間T0，進樣結束后切換到放空狀態，記錄結束時間T1，計量流速μ1；計算進樣體積V=(T1-T0)*(μ1+μ0)/2。該計量方法及裝置將質量流量計設置在放空通路上，在質量流量計前端加裝過濾器，避免系統堵塞，并且可以準確的計量進樣體積。
- 專利類型發明專利
- 申請人大慶市日上儀器制造有限公司;
- 發明人段景峰;胡志容;曹艷輝;孫向東;韓笑;
- 地址163316 黑龍江省大慶市高新技術開發區產業三區禾豐路22號
- 申請號CN201410631666.7
- 申請時間2014年11月11日
- 申請公布號CN104374444A
- 申請公布時間2015年02月25日
- 分類號G01F22/00(2006.01)I;G01N35/10(2006.01)I;
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