摘要：該發明屬于電子信息技術領域中天線陣列相位響應參數的測定方法，包括初始化處理，建立第一個方向及余各設定方向的多徑信號方向差矩陣，確定各設定方向校正信號源的直達波信號與非直達波信號之間的方向差，確定均勻線陣相位響應參數。該發明由于采用將校正信號源分別置于不同的已知方向上并依次發射信號，均勻線陣收到該信號源發射的各次信號后，對各次多徑信號分別進行處理，建立各方向差矩陣并確定各校正信號源的多徑信號之間的方向差，進而確定均勻線陣相位響應參數向量及歸一化平均向量的共軛向量。從而具有在多徑且非直達波信號方向未知傳播環境中，準確測定均勻線陣相位響應參數且所測參數與實際參數之間的誤差小、相似度高等特點。
- 專利類型發明專利
- 申請人電子科技大學;同方電子科技有限公司;
- 發明人萬群;肖洪坤;徐保根;萬義和;湯四龍;丁學科;龔輝;殷吉昊;鄒麟;饒中初;
- 地址611731 四川省成都市高新區（西區）西源大道2006號
- 申請號CN201410338672.3
- 申請時間2014年07月16日
- 申請公布號CN104142445B
- 申請公布時間2016年08月17日
- 分類號G01S5/02(2010.01)I;
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