摘要：本發明公開了一種介電系數微波測量裝置及其構成的介電系數微波測量系統，所述測量裝置包括同軸結構的外導體、內導體及位于內外導體之間的絕緣介質，同軸結構在軸向分為直圓柱測量段和兩側直徑漸變收縮的阻抗匹配過渡段，阻抗匹配過渡段的端口設計有使本裝置接入測量系統的同軸接口，構成同軸測量段的外導體中間直圓柱段設計有供盛裝待測介電系數物質的試管插入的安裝孔，內導體于試管插入處斷開。所述測量系統，包括微波信號源、環行器、雙定向耦合器、介電系數微波測量裝置、定向耦合器、匹配負載、檢波器、放大器、A/D模數轉換器和計算機。采用本發明進行介電系數測試，具有實時、準確的特點，特別適用于液體、粉狀物質的介電系數測量。
- 專利類型發明專利
- 申請人四川大學;
- 發明人黃卡瑪;陳倩;楊陽;劉長軍;閆麗萍;趙翔;郭慶功;陳星;楊曉慶;
- 地址610065 四川省成都市一環路南一段24號
- 申請號CN201310268707.6
- 申請時間2013年06月28日
- 申請公布號CN103353553B
- 申請公布時間2016年05月25日
- 分類號G01R27/26(2006.01)I;G01N22/00(2006.01)I;
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