摘要：本發明屬于電離輻射計量技術，具體涉及一種過濾X射線參考輻射的能譜分析方法。本發明用HPGe能譜儀測量低空氣比釋動能率和窄譜兩個系列的過濾X射線參考輻射，探索出使用反卷能譜法對測量譜進行了能譜分析的方法，得到了參考輻射場的注量譜和各特征值，并與國標中給出的參考譜和各特征值的推薦值進行了比較，兩者符合的較好，驗證了已建立的X射線參考輻射的準確性和可靠性。
- 專利類型發明專利
- 申請人中國輻射防護研究院;
- 發明人牛強;張慶利;金成赫;韋應靖;黃亞雯;
- 地址030006 山西省太原市學府街102號
- 申請號CN201110393393.3
- 申請時間2011年12月01日
- 申請公布號CN103135125A
- 申請公布時間2013年06月05日
- 分類號G01T1/36(2006.01)I;
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