摘要：一種干擾環境下的天線陣列陣元位置誤差測定方法。針對干擾環境下利用已知的校正信號方向和天線陣列接收信號測定天線陣列陣元位置誤差的問題，利用校正信號的方向對應的實際的天線陣列方向向量與噪聲子空間的正交關系、補償向量的所有元素的幅值等于1、補償向量的第一個元素等于1的約束關系，通過迭代的方式從受到干擾的天線陣列的接收信號向量中確定校正信號的天線陣列方向向量對應的補償向量，并利用補償向量各個元素的相位與對應的陣元位置誤差之間的關系，實現在干擾環境下測定天線陣列的陣元位置誤差，進而為天線陣列的測向提供高精度的陣元位置信息。滿足不斷增長的傳感器陣列信號處理系統對高精度波達方向估計、波束形成的性能要求。
- 專利類型發明專利
- 申請人同方電子科技有限公司;電子科技大學;
- 發明人徐保根;萬群;萬義和;湯四龍;龔輝;丁學科;陳睿;
- 地址332001 江西省九江市九瑞大道111號
- 申請號CN201210555306.4
- 申請時間2012年12月19日
- 申請公布號CN103064056A
- 申請公布時間2013年04月24日
- 分類號G01S3/02(2006.01)I;
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