摘要：本發明公開了一種用于寶石檢測的反射光譜測量取樣系統及方法，該系統包括：包括：第一光源、第二光源、濾光元件、積分球、光導纖維、分光檢測模塊、模數轉換模塊及數據處理終端，所述積分球上設有入射孔、采樣口及反射光出射口。本發明可采集經寶石反射后的光線的實時光譜，且可有效獲得用戶所選的波長范圍的“全光”信息，解決了隨形樣品測量過程中出現的不確定性問題，省去了單色掃描、機械分光等繁瑣的操作步驟，極大地提高了寶石檢測分析測試的效率。本發明作為一種性能優良的用于寶石檢測的反射測量光譜取樣系統及方法可廣泛應用于珠寶鑒定行業中。
- 專利類型發明專利
- 申請人廣州標旗電子科技有限公司;
- 發明人宋光均;鄭祥利;吳劍峰;高玲;
- 地址510640 廣東省廣州市天河區金穎路1號1711房
- 申請號CN201210439044.5
- 申請時間2012年11月06日
- 申請公布號CN102967604B
- 申請公布時間2014年11月05日
- 分類號G01N21/87(2006.01)I;G01N21/27(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;
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