摘要：本發明屬于測量技術領域，具體涉及一種雙通道電容法測量磁致伸縮的裝置及其方法，該裝置包括樣品位置及探頭位置調整機構（1），位于樣品位置及探頭位置調整機構（1）兩端的外加磁場（18），以及具有第一電氣箱通道（11）和第二電氣箱通道（12）的位移數據處理系統（2）。本發明根據平行板電容原理，在外加磁場下，通過測量兩組樣品（14）所形成的可動的樣品電極與探頭電極（8-1，8-2）所形成的固定電極之間的電容變化，間接測量樣品的伸長或縮短量，完成磁致伸縮測量并通過雙通道顯示。本發明的雙通道電容法測量磁致伸縮的裝置及其方法具有結構設計簡單，測量精度高，可靠性強的優點。
- 專利類型發明專利
- 申請人安泰科技股份有限公司;
- 發明人郭金花;馮碩;倪曉俊;盧志超;李德仁;薄希輝;周少雄;
- 地址100081 北京市海淀區學院南路76號
- 申請號CN201210174911.7
- 申請時間2012年05月30日
- 申請公布號CN102707248A
- 申請公布時間2012年10月03日
- 分類號G01R33/18(2006.01)I;
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