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          硬盤性能的測試方法和裝置

            摘要:本發明公開了一種硬盤性能的測試方法和裝置,其中,該方法包括:獲取需要測試的至少一個硬盤的參數信息;在預先配置的測試環境下對硬盤進行測試,讀取測試得到的測試結果、參數信息以及硬盤所在計算機的系統參數信息;根據讀取的參數信息、測試結果以及計算機的系統參數信息判斷硬盤的性能是否正常。本發明通過獲取硬盤的參數信息和系統信息,并根據該參數信息和系統信息判斷實際測得的硬盤性能是否正常,能夠實現硬盤的自動化測試,提高測試的效率,同時保證測試的準確性。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人曙光信息產業股份有限公司;
          • 發明人趙雷;劉建鋒;劉流;
          • 地址300384 天津市西青區華苑產業區(環外)海泰華科大街15號1-3層
          • 申請號CN201110456279.0
          • 申請時間2011年12月31日
          • 申請公布號CN102568522B
          • 申請公布時間2015年08月19日
          • 分類號G11B20/18(2006.01)I;
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