摘要：本發明公開了一種非電學量測定系統及方法，用于測定非電學量；本發明所述的系統及方法采用高階非線性特征方程描述被檢測非電學量與頻率信號值和溫度信號值之間的關系，同時，所述高階非線性方程的系數使用高階非線性擬合算法，通過大量的數據擬合算出，保證了檢測的精度，避免了由于采用分段線性的方法而導致的檢測精度不高的情況。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京華控技術有限責任公司;
- 發明人常先明;徐昭敏;陳小楓;耿東漢;
- 地址100085 北京市海淀區上地東路1號華控大廈1層
- 申請號CN201010243096.6
- 申請時間2010年08月02日
- 申請公布號CN101936746B
- 申請公布時間2012年09月05日
- 分類號G01D3/028(2006.01)I;
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