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          一種用于檢測大分子受激輻射強度的方法及檢測儀

            摘要:本發明涉及一種用于檢測大分子受激輻射強度的方法及檢測儀,采用反射式光路,光路中部件都放置在一個密閉的、不漏光的外殼中;采用差分式檢測和計算,消去殘余480nm激光及背景雜光對測試結果的影響。在測試具體的樣品之前先用空的樣品盒連同整個測試環境進行一次測試,并記下此時光電倍增管輸出的電信號強度,記下這個強度N1作為基準;放入具體待測樣品以后測得混合信號強度C,從C的數值中減去N1這個基準,就得到了反映著具體待測樣品受激發射強度的電信號S。本發明的效果:整個光路模塊的尺寸可以做到適合便攜的程度,而整臺儀器的尺寸主要取決于光路模塊。另一方面,采用差分式的檢測方法顯著提高了檢測的靈敏度。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人北京網新易尚科技有限公司;
          • 發明人舒咬根;毛德操;樂加昌;
          • 地址310007浙江省杭州市天目山路256號12樓浙大網新科技有限公司
          • 申請號CN200910099529.2
          • 申請時間2009年06月18日
          • 申請公布號CN101576496A
          • 申請公布時間2009年11月11日
          • 分類號G01N21/64(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G02B3/10(2006.01)I;
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