摘要：本發明提供一種超聲測厚儀的單晶探頭和雙晶探頭識別和應用方法，該方法包括：將發射電路和接收電路同時與第一探頭插座接通，根據接收到的信號，判斷該第一探頭插座上連接是否有超聲探頭晶片存在；以及將發射電路和接收電路同時與第二探頭插座接通，根據接收到的信號，判斷該第二探頭插座上連接是否有超聲探頭晶片存在，從而進一步判斷連接的探頭是單晶探頭還是雙晶探頭，并將電路切換到該類探頭的應用狀態。本發明還提供一種超聲測厚儀，該超聲測厚儀包括通路切換電路，設置在發射電路和接收電路與探頭插座之間。本發明在同一臺超聲測厚儀上實現單晶探頭測量方式或雙晶探頭測量方式，提高了測試效率。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京時代之峰科技有限公司;
- 發明人孫磊;曹永超;彭雪蓮;徐西剛;
- 地址100085 北京市海淀區上地西路28號1幢二層
- 申請號CN200710308465.3
- 申請時間2007年12月29日
- 申請公布號CN101469979B
- 申請公布時間2011年04月13日
- 分類號G01B17/02(2006.01)I;
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