[報告簡介]
如何在不破壞樣品的前提下，對大尺寸石墨烯等二維材料的電學性質進行準確快速的測量，是在提升樣品質量并推進其實際應用中，亟待解決的重要問題。常規的四探針電阻測量法、原子力顯微鏡、共聚焦拉曼等表征方法存在測量尺寸小、效率低、對樣品有損傷等缺點而無法勝任。
在本報告中，我們將結合來自《nature》等期刊的新文獻，介紹一種顛覆性技術，它采用非接觸式方式，快速準確且高效的實現大尺寸石墨烯等二維材料的無損測量，得到電導率、電阻率、載流子和均勻性等分布信息。此方法同樣適用于其他二維材料、半導體薄膜、光伏薄膜的電學性質測量。該方法已經成功應用在西班牙CIC nanoGUNE研究中心等著名高校和企業。
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[主講人介紹]
弓志宏 博士
弓志宏，物理學碩士，2016年畢業于北京理工大學。主要研究方向為激光光譜學與技術、光與低維半導體納米結構相互作用以及時間分辨發光動力學等?，F擔任Quantum Design中國子公司產品經理，多年來一直負責低維材料光學，電學物性測量設備的應用開發，技術支持和市場拓展。
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