芬蘭時間4月1日上午9點（北京時間4月1日下午15點），Specim正式發布首款適用于工業機器視覺領域的中波紅外高光譜成像儀——FX50。
該款產品最大的特點是，選用中波紅外（MWIR）區域，可用于識別和分類難處理的黑色塑料，分析碳氫化合物和礦物，快速、可靠地檢測金屬表面的污染，提高準確性，降低成本。因此一經問世，便以高速、精確、高效的特點，引起了廣泛關注。
優勢
對黑色材料進行分類識別的唯一可靠方法
也可識別黑色ABS塑料，因為它的光譜區域可以延伸到5300 nm
為油氣和礦探生產過程中分析暗色樣品中礦物和碳氫化合物提供了新的技術手段
由于其在MWIR范圍的強光譜特征，能夠檢測低濃度雜質
靈活性
相機覆蓋范圍內150個波段可自由選擇
三種鏡頭可供選擇，以滿足不同帶寬需求
快速的光學設計
高靈敏度：能夠在較短積分時間內提供良好的信號
集成方案
易于集成和更新現有系統（GigE接口）
兼容商業機器視覺軟件工具
可用Specim SDK和ASCII控制協議集成到現有軟件解決方案中
可用MWIR光源
應用領域 | 技術參數 | |
光譜范圍 | 2.7-5.3μm | |
光譜波段 | 152（2-bin） | |
光譜采樣（FWHM）/FWHM | 8.44nm/35nm | |
空間采樣 | 640px | |
幀率 | 380FPS（全光譜&空間數據） 更高的光譜ROI | |
視場角 | 24°、45°、60° | |
F值 | F/2.0 | |
相機接口 | GigE（觸發輸入） | |
尺寸 | 280×202×169mm | |
重量 | 7Kg |
