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          第八屆圖書館論壇 校體購2

          表面涂層測厚儀的影響因素以及使用規定

          教育裝備采購網 2019-03-12 09:48 圍觀407次

            測量原理

            . 磁吸力測量原理及測厚儀

            久磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關系,這個距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,就可行測量。鑒于大多數業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛好大于吸力,磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動成這記錄過程。不同的型號有不同的量程與適用場合。

            這種儀器的點是操作簡便、堅固耐用、不用電源,測量前無須校準,價格也較低,很適合車間做現場質量控制

            

            使用規定

            a 基體金屬性

            對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質,應當與試件基體金屬的電性質相似。

            b 基體金屬厚度

            檢查基體金屬厚度是否過臨界厚度,如果沒有,可采用3.3中的某種方法行校準。

            c 邊緣效應

            不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處行測量。

            d 曲率

            不應在試件的彎曲表面上測量。

            e 讀數次數

            通常由于儀器的每次讀數并不相同,因此須在每測量面積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局差異,也要求在給定的面積內行多次測量,表面粗時更應如此。

            f 表面清潔度

            測量前,應清除表面上的何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,但不要除去何覆蓋層物質

            涂層測厚儀中F,N以及FN的區別:

            F代表ferrous 鐵磁性基體,F型的涂層測厚儀采用電磁感應原理, 來測量鋼、鐵等鐵磁質金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層,例如:漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。

            N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,N型的涂層測厚儀采用電渦流原理;來測量用渦流傳感器測量銅、鋁、鋅、錫等基體上的琺瑯、橡膠、油漆、塑料層等。

            FN型的涂層測厚儀既采用電磁感應原理,又采用采用電渦流原理,是F型和N型的二合型涂層測厚儀。

             影響因素

            有關說明

            a 基體金屬磁性質

            磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器行校準;亦可用待涂覆試件行校準。

            b 基體金屬電性質

            基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器行校準。

            c 基體金屬厚度

            每種儀器都有個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

            d 邊緣效應

            本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處行測量是不可靠的。

            e 曲率

            試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

            f 試件的變形

            測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。

            g 表面粗糙度

            基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點

          點擊進入北京恒奧德儀器儀表有限公司展臺查看更多 來源:教育裝備采購網 作者:北京恒奧德儀器儀表有限公司 責任編輯:張肖 我要投稿
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