高低溫測試箱非散熱試驗樣品的標準試驗目的是為了提供一種標準的試驗程序，用以確定非散熱的電工電子產品(包括元件、設備和其他產品)在低溫貯存或使用的適應性，試驗樣品應在低溫下放置足夠長時間以達到溫度穩定，試驗持續時間通常從試驗樣品達到溫度穩定時開始計算。
本高低溫測試箱是將具有室溫的試驗樣品放入溫度也為室溫的高低溫測試箱內，然后將試驗箱的溫度調整到符合相關規范規定的嚴酷等級的溫度值，在試驗樣品達到溫度穩定后，在改條件下暴露規定的持續時間，試驗樣品通常處于不工作狀態下，本試驗通常采用強迫空氣循環，試驗箱工作空間內，應提供標準試驗規程所要求的溫度條件，可以用強迫空氣循環來保持溫度均勻。
為了限制輻射影響，高低溫測試箱箱內壁各部分溫度與規定試驗溫差之差不應該超過8%(按開爾文溫度計算)，且試驗樣品不應受到不符合上述要求的任何加熱與冷卻元件的直接輻射。
