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          梅特勒-托利多推出高性能新型XPE系列天平

          教育裝備采購網 2014-11-20 14:00 圍觀1605次

            梅特勒-托利多推出的新型XPE系列天平涵蓋了微量分析天平,分析天平,精密天平,以及使用Quantos粉末和液體自動加樣模塊。憑借最新的靜電消除、智能秤盤以及狀態指示燈技術,新型XPE天平可以保證測量結果的穩定性和合規性,幫助客戶輕松實現無憂測量。

            如何處理靜電是分析天平微量天平所要面對的一大挑戰,而新型XPE天平的靜電消除技術使得這一問題將不復存在。XPE微量分析天平和分析天平使用創新的靜電消除技術,能夠通過分析稱量信號判斷并消除由于靜電導致的稱量誤差。

            此外,革新性的智能秤盤可以使得精密天平在不使用防風罩的情況下,實現最高達5mg的測量精度。即便是在通風櫥中,其測量結果的速度也比之前加快了一倍。

            XPE天平自帶的TestManager軟件將使得常規測量管理變得輕松無比。使用該軟件可以便捷地幫助客戶實現特定測量,且用戶在測試即將開始時也會接收到軟件的提醒通知。如果實驗尚未完成,用戶還可以選擇將天平自動鎖定來確保實驗的高度過程安全性。

            新型XPE天平采用了全新觸摸屏顯示終端;其統一的設計使得用戶使用完XPE天平后也能輕松掌握其他天平甚至其他任何梅特勒-托利多的儀器。此外,新型XPE天平前端自帶的狀態指示燈能以不同的顏色直觀顯示天平的就緒狀態。而與天平配套的梅特勒-托利多LabX實驗室軟件也更新支持靜電消除,狀態指示燈甚至是新的RFID功能。

            新型XPE天平能夠幫助客戶滿足當前甚至是未來數年內的稱量需求,從而保障了客戶的長期投資收益。

          來源:教育裝備采購網 我要投稿
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