顆粒表征“千里馬”——英國馬爾文儀器公司閃耀第七屆世界顆粒學大會
【教育裝備采購網訊】作為顆粒表征方面的翹首，英國馬爾文儀器公司（以下簡稱馬爾文））攜光散射(DLS)儀器系統Zetasizer Nano ZS，以及NanoSight NS300納米顆粒跟蹤分析儀亮相第七屆世界顆粒學大會。本次大會于5月19至22日在北京國際會議中心舉辦。
馬爾文展位
據了解，馬爾文是本次大會的主贊助商之一，作為深耕材料表征技術和專業知識多年的企業，馬爾文一直引領業界技術走向，并且在顆粒粒度、顆粒形狀、Zeta電位、分子量、分子結構、流變特性以及化學成分的測量方面擁有豐富經驗。
在本次大會上，作為馬爾文顆粒表征拳頭產品之一的NanoSight NS300，將強大的顆粒檢測功能與多種參數的納米顆粒分析技術集于一身，并且開發出一種高分辨率，通過對每一個顆粒的檢測和分析得到高分辨率的顆粒粒徑分布，采用實時動態納米顆粒檢測技術，此項技術可以對標記的顆粒進行特定檢測，不受復雜組分溶液的影響。
馬爾文NanoSight NS300
馬爾文顆粒表征又一拳頭產品ZetasizerNano ZSP是一款光散射儀器。資料顯示，Zetasizer Nano ZSP系統包含一臺雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動態光散射法，結合非侵入式背散射光學器件“NIBS”，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及低濃度或高濃度樣品。ZSP還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子及表面檢測的Zeta電位分析儀，以及靜態光散射法表征分子量。據了解，該產品是全世界性能的系統，特別適用于需要粒度及Zeta電位測量靈敏度的蛋白質及納米顆粒表征，可實現對各種粒度表征、蛋白質電泳遷移率、納米顆粒及Zeta電位的測量，并擁有系列產品中的測量靈敏度，是工業和學術界的寵兒。
馬爾文ZetasizerNano ZSP
據悉，馬爾文公司的全球大客戶經理Stephen Ward-Smith博士、應用經理Alan F. Rawle博士、以及產品經理寧輝博士，在本次大會上有精彩的現場報告，針對顆粒表征領域的技術前沿在大會中發表獨到見解。
