反射、透射這兩種模式是光譜測量的基本手段。實現這兩種模式的光譜測量，通常需要光譜儀、光源、光纖、測量支架、標準參比樣品、和測量軟件等。對于不同種類的樣品，為了獲取最佳的光譜數據，反射、透射這兩種基本模式又會演化為更多的形式。
卓立為用戶提供了以光譜儀為核心的光譜測量設備。利用這些配置豐富的設備，就可以搭建各種常見的光譜測量系統。
透 射、反射/吸收率是光學元件(如光學材料、濾光片、鍍膜等)與多種生活材料(玻璃、布料、汽車貼膜等)的重要光學特性指標，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光譜測量系統正是針對此應用需求，而設計的高集成度，自動化的測量系統，它能幫助研發人員或品管人員在實驗室輕易、快捷的完成透射率/反 射率的光譜測試。
系統組成：光源系統+分光系統+樣品檢測系統+數據采集及處理系統+軟件系統+計算機系統
■ OmniAS透射、反射/吸收光譜測量系統
