2013年8月20至21日，“2013全國表面分析科學與技術應用學術會議暨表面分析國家標準宣貫及X射線光電子能譜(XPS)高端研修班” 在北京西郊賓館召開。本次會議由高校分析測試中心研究會、全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會主辦，國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心、清華大學分析中心、北京師范大學分析測試中心和北京大學分析測試中心聯合承辦，是一場高水平的專業學術會議。
本次會議旨在推動表面分析學科及其應用技術的發展以及與其他學科的融合，加強行業內的交流，進一步提升人員隊伍的理論和技術水平。高校分析測試研究會領導、成員單位和部分企業高管共計百余人參與了本次會議。
高校分析測試中心研究會理事長、上海交通大學分析測試中心主任梁齊教授致歡迎詞
梁齊教授在講話中提到：“高校分析測試中心研究會希望通過舉辦“高端分析儀器研修班”來加強高校分析測試中心之間的學術交流，幫助大家更好的了解XPS的先進技術及其應用。研究會舉辦的第一屆“儀器前沿技術與應用高端研修班—透射電鏡”已于今年7月在中科大成功舉辦，得到各大中心人員的支持與歡迎。這次研修班是第二屆，我們力求做到更好?！?nbsp;
高校分析測試中心研究會副理事長、清華大學分析測試中心常務副主任朱永法教授講話
朱永法教授表示：“XPS技術作為一門專業課，在高校得到的重視一直不夠，國內也有多年沒有舉辦類似的會議。所以這次會議目的在于重建隊伍和人員整合，爭取建立起表面分析專業委員會。讓XPS技術原理、產業應用、數據處理得到廣泛的傳播，規范行業發展?！?/p>
本次會議共分為三個階段，一是同行學術交流，二是國家相關標準宣貫，三是高端培訓研修。主辦方為參加研究班的老師準備了精美的結業證書。
高校分析測試中心研究會成員單位北京工業大學、北京化工大學、南京大學、四川大學、北京師范大學、清華大學、汕頭大學、中山大學、揚州大學等紛紛派技術人員代表參與了本次會議，并做了專業報告。
報告人：汕頭大學王江勇
報告題目：Recent Progresses on Quantification of Sputter Depth Profiling
報告人：上海交通大學鄒志強
報告題目： 硅基底上外延生長的MnSi納米線的STM、TEM和XPS研究演講
報告人：北京化工大學程斌
報告題目：XPS在高分子材料中的應用
報告人：南京大學高飛
報告題目：利用原位手段研究TIO2暴露晶面對AU/TIO2催化性質及金屬-載體強相互作用的影響
報告人：四川大學田云飛
報告題目：聚苯硫醚微等離子體表面改性的X射線光電子能譜分析
報告人：北京師范大學吳正龍
報告題目：超薄氧化硅薄膜包覆納米銅的SERS基體的初步研究
報告人：中山大學謝方艷
報告題目：光電子能譜在有機半導體研究中的應用
報告人：清華大學姚文清
報告題目：GB/T28894-2012/ISO18117:2009表面化學分析 分析前樣品的處理
報告人：中科院大連化學物理研究所盛世善
報告題目：XPS數據的后期處理與（半）定量計算
報告人：中科院化學所劉芬
報告題目：XPS譜圖解析案例
清華大學證書
合影留念
現場頒發證書
研修班培訓結束后，高校分析測試中心研究會副理事長李崧主任和侯賢燈主任共同為所有參加培訓的學員頒發證書。據悉下一屆研修班將于明年在四川大學舉辦，相關報名信息敬請關注高校分析測試研究會網站。
