歐美大地獨家代理的英國GDS彎曲元件測試系統因其優異的性價比在近期中國礦業大學巖土試驗儀器招標中一舉中標!
GDS彎曲元BES系統用于測量土在小應變時的最大剪切模量。P波，S波激發，可發射正弦波;方波;也可以由用戶自定義波形。
GDS彎曲元件測試系統技術參數
- 數據采集分辨率 (bits) = 16 bit (采用200ks/s 卡) 或 12 bit (采用1Ms/s 卡)
- 數據采集可以采用的增益范圍 = 16 (from x10 to x 4000)
- 為了減少重量采用鈦插入物 (這點對試樣帽來說非常重要)
GDS彎曲元件試驗系統是英國GDS公司研發的一套精巧的測量土體動態性能指標的工具。
GDS彎曲元件可以非常容易地在三軸壓力室中測量土在小應變時的最大剪切模量。由于荷載和位移測量裝置的分辨率和精度不夠，因此，在室內非常小的應變條件下測量土的剛度是非常困難的。以前在三軸試驗中測量小應變剛度通常采用局部應變傳感器，但是這種傳感器的價格很昂貴，通常用于科學研究。
GDS 彎曲晶片使得在三軸壓力室中小應變情況下測量土的最大剪切模量變得更加容易。該系統采用一對彎曲晶片，一個發射，另一個接收，在土中傳輸S波和P波。
有兩種型號不同的彎曲晶片可以采用：
P 和 S 波組合
只施加P 波
GDS 彎曲晶片被包裝固定在試樣帽或底座的“插入物”中。試樣帽的插入物由鈦制成，可以提供很高的軸向硬度，與用不銹鋼制成的底座插入物相比，重量輕了一半。這可以將對軸向載荷的影響降到最小。
