雙電測數字式四探針測試儀/雙電四探針檢測儀二探針測儀XNC-RT7
XNC-RT7型二探針測試儀是運用二探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M 標準而設計的，專用于測試半導體材料縱向電阻率的專用儀器。
儀器由主機、測試臺、二探針探頭、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。
儀器采用了電子技術進行設計、裝配。具有功能選擇直觀、測量取數快、精度高、測量范圍寬、穩定性好、結構緊湊、易操作等特點。
雙電測數字式四探針測試儀/雙電四探針檢測儀二探針測儀XNC-RT7
本儀器適用于半導體材料廠、科研單位、高等院校對半導體材料的電阻性能測試。
技 術 指 標：
測量范圍電阻率：10-5～105 Ω.cm；
恒流源電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續可調
數字電壓表量程及表示形式：000.00～199.99mV；
分辨力：10μV；
輸入阻抗：>1000MΩ；
精度：±0.1% ；
顯示：四位半紅色發光管數字顯示；極性、超量程自動顯示；
二探針探頭基本指標間距：3mm（可選其它間距）；
針間絕緣電阻：≥1000MΩ；
機械游移率：≤0.3％；
探針：碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm；
探針壓力：5～16 牛頓(總力)；
二探針探頭應用參數(見探頭附帶的合格證)
模擬電阻測量相對誤差
( 按JJG508-87進行)0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字
測試架配置T-2A測試架，兩端電極Ф8mm～20mm（可選其他尺寸訂做）
計算機通訊接口并口
標準使用環境溫度：23±2℃；
相對濕度：≤65%；
無高頻干擾；
無強光直射；
