多功能數字式四探針測試儀/臺式四探針電阻率測試儀型號:XN-2258C 由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成
概述
XN-2258C型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能，分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配XN-T-A或XN-T-B或XN-T-C或XN-T-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選XN-T-K型測試臺，也可選配XN-T-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配XN-T-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量級）
電阻：10.0×10-6 ～200.0×103? Ω,??? 分辨率1.0×10-6 ～0.1×103? Ω
?。?.0×10-6 ～20.00×103?Ω,??? 分辨率0.1×10-6 ～0.01×103 Ω）
電阻率：10.0×10-6 ～200.0×103Ω-cm?? 分辨率1.0×10-6 ～0.1×103? Ω-cm
?。?.0×10-6 ～20.00×103Ω-cm? 分辨率0.1×10-6 ～0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～900.0×103 Ω/□分辨率5.0×10-6 ～0.5×103? Ω/□
?。?.0×10-6 ～100.0×103Ω/□分辨率0.5×10-6 ～0.1×103? Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直徑：XN-T-A圓測試臺直接測試方式Φ15～130mm，手持方式不限
XN-T-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(高)度：測試臺直接測試方式H≤100mm,??? 手持方式不限.
測量方位:? 軸向、徑向均可
量程劃分及誤差等級
滿度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 |
常規量程 | kΩ-cm/□ | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | --- | ||||
拓展量程 | --- | kΩ-cm/□ | Ω-cm/□ | mΩ-cm/□ | mΩ-cm/□ | ||||
基本誤差 | ±2%FSB ±4LSB | ±1.5%FSB ±4LSB | ±0.5%FSB±2LSB | ±0.5%FSB ±4LSB | ±1.0%FSB ±4LSB | ||||
工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5．外形尺寸：245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（高）
凈重：≤1.5～2.0kg
