弱光微光微光亮度計是一種測光和測色的計量儀器。是每個化學分析實驗室常用儀器設備之一在各種定量和定性分析中得到了廣泛的應。微光亮度計在稀土材料、熒光材料、反光服飾等微光檢測專用儀器。
SS200LM是遮光筒式弱光微光亮度計（輝度計、全數字微光亮度計），采用 SMT32芯片、嵌入式系統，高速16位AD取樣精度高 ，精密放大電源電路、低功耗，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定， 適用性強。該儀器測量應急出口標志、背光源、面光源等的亮度均勻性測量，經濟實用，操作簡易。 亮度探頭V（λ）修正水平達標準級（CLASS A），實現亮度的精確測量工作
鋁合金機身、154寸IPS觸摸屏、上下線設置、分選測試、光度變化曲線（PC軟件）、16位100KS/s采樣（高速）、亮度、平均亮度、亮度、小亮度、透射比
一、參數性能
型號 | SS200LW弱光微光照度計 |
光譜響應 | Λ380-780nm |
測試功能 | 亮度(mcd/m2)、、亮透射比(%)、亮照度(mcd/m2·h)、亮照度(mcd/m2) |
傳感器 | 硅光器件 |
測量范圍 | 1mcd/m2-10000cd/m2 |
分辨率 | 1m cd/m2 |
V(λ)失配誤差 | f1'≤3.5%（標準級standard class）or f1'≤5%（一級class 1） |
余弦修正特性 | f2'≤2%（標準級）or f2'≤4%（一級） |
感光面積 | Φ8mm（customized according to needs） |
測試范圍 | ±4%（according to JJG245-2005）or ±1%（according to JJG245-2005） |
測量誤差 | 測量允許誤差：一級(±4%讀數±1個讀數）一級 |
光學測量準確度 | 探測器余弦修正V(λ)修正水平，達到一級照度計要求； |
顯示方式 | 1.54IPS觸摸屏 |
通訊 | Type-C 接口藍牙 |
用戶校正功能 | 修正系數功能、校零、定標 |
外形尺寸 | 50mm*50mm*60mm |
使用環境 | 溫度：18℃～30℃濕度：35%RH～75%RH |
量程 | 自動量程 |
電池容量 | 1600mAh高容量電池一次充電可使用12小時左右 |
重量 | 135g |
顯示刷新率 | 10次／秒； |
采樣 | 16位100KS/s高速AD |
二、探測器光譜響應曲線
