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          日本材料介電阻抗分析系統

          日本材料介電阻抗分析系統
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          • 日本材料介電阻抗分析系統
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          Toyo Corporation
          MIA
          Toyo Corporation
          高教
          日本
          詳細說明

          材料阻抗測試設備MIA簡介

            [系統簡介]

            材料的基礎物性研究是產品產業化的根基,當一種材料需要產業化的時候,我們必須盡可能大范圍地,高精度地掌握它的大部分特性,以免因為錯誤的數據而影響了后期產業化的方向,造成不必要的損失。

            MIA系列是東陽特克尼卡株式會社與ZURICH聯合開發,面向各種介電材料的交流阻抗評測系統。該系統搭配了OSL補償系統,實現了高達0.2%的測量誤差精度。

            [系統圖片]

            [測試項目,關鍵詞]

            介電材料交流阻抗電容測量配位化合物離子導電材料調色劑有機半導體

            交流阻抗測試系統阻抗測試系統阻抗分析儀阻抗測試儀介電常數測試儀

            [系統特征]

            ?可對應1T?的樣品

            -適用于介電材料,配位化合物,離子導電材料,調色劑,有機半導體等

            ?高精度

            -基礎測量精度0.2%

            -帶有OSL校正

            ?專用軟件

            -HIMS全自動控制測量軟件

            -Z-View等阻抗分析軟件

            ?各種專業配件

            -適用于各種不同材料形態尺寸樣品的夾具選配件

            -適用于各種氣體氛圍,環境和溫度的選配件

            [系統規格]

          樣品接觸方式

          2端接觸

          頻率范圍

          1mHz ~5MHz

          基本測量精度

          0.20%

          阻抗測量范圍

          100Ω ~1TΩ

          電容測量范圍

          1pF ~1mF

          介電損耗(tanδ)測量范圍

          0.0001 ~1000

          施加電壓(AC + DC Vpp)

          -10V ~+10V

          校正功能

          OSL

          控制軟件

          附帶HIMS軟件,PC控制

            [選配件]

            -?電壓放大功能DC:±4kV、AC:800Vpp,帶特殊保護裝置。

            ?樣品夾具/溫度控制

          型號

          TTPX

          LN-Z2

          恒溫箱+SH2-Z

          HT-22-1000

          UHT-22-1200

          名稱

          低溫探針臺

          廣域溫度控制臺

          耐熱樣品臺

          桌面型烘箱

          超高溫烘箱

          溫度控制范圍

          4.2K ~425K

          80K ~ 473K

          -60℃ ~+150℃

          100℃ ~1,000℃

          100℃ ~1,200℃

          ※根據型號冷媒不同

          樣品接觸方式

          探針

          上下夾扣

          上下電極

          上下夾扣

          上下夾扣

          氛圍氣體控制

          真空,氣體置換

          真空,氣體置換

          規格不同不同對應

          流氣量控制

          流氣量控制

            [測試圖例]

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