GCSTD-D 高低頻介電常數測試儀
滿足標準：
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容
率和介質損耗因數的推薦方法
GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數
的測試方法
試驗方法：
接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料
電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）
液體電極-液體容量15ml
粉體電極-根據樣品量可配專用電極
試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規則物或者不規則物
性能特點：
測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進
測試電平10mV～5V，1mV步進
基本準確度0.1％
高達200次／s的測量速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數分辨率
可測量22種阻抗參數組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）
電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能
V、1測試信號電平監視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器設定可供儲存／讀取
內建比較器，10檔分選及計數功能
多種通訊接口方便用戶聯機使用
2m／4m測試電纜擴展（選件）
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序
測試材料：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件
等的陽抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
測試電橋參數
測試參數 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率 20 Hz～2MHz,10mHz步進
測試信號電 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度 0.1%
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
顯示范圍 Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
測量速度 快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能 開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
等效方式 串聯方式, 并聯方式
量程方式 自動, 保持
顯示方式 直讀, Δ, Δ%
觸發方式 內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏 電壓模式 -5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
置源 電流模式（內阻為50Ω） -100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能 10檔分選及計數功能
顯示器 320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器 可保存20組儀器設定值
USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
接口 LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
隨機配置
序號項目數量備注
1測試主機1臺
2測試數據線1套
3固體測試電極1套
4液體測試電極1套選配件
5測試系統1套
6合格證1份
