快速溫變高低溫試驗箱適合電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、電纜、航天等制品檢測質量之用。用于模擬產品材質經過溫度、濕度變化后是否有故障、質變、無法正常工作等不良情況。
1 、 試驗箱結構設計先進合理，配套產品和功能元器件具有國際先進水平，能夠適 應長期、穩定、安全、可靠的生產需求。能夠滿足用戶為從事上述用途的加工生產要求，且使用、操作、維修方便，使用壽命長，造型美觀，有良好的用戶界面，使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀。
2、 設備主要部件選用國際知名品牌廠家的優質產品，確保整機的質量和性能。
3 、 設備性能完善、人機對話功能簡便易操作。
4、擁有自主知識產權和外觀設計以及掌握環境試驗箱核心技術
5、控制儀表采用日本原裝進口"優易控"UMC1200，可實行遠程監控
6、制冷系統采用法國原裝泰康壓縮機組，并配有凝結水接水盤
7、核心電氣元器件均采用施耐德等進口知名品牌
8、沿襲國外環境試驗設備先進設計理念，水電分離
9、淺槽加濕，新穎獨特，抽屜式加水方式，超大水箱設計
10、工作室底部采用引流槽設計，防止蒸氣凝結，限度保護測試工件
快速溫變試驗箱的型號：
型號 | TEB-225PF | TEB-408PF | TEB-600PF | TEB-800PF | TEB-1000PF | ||
內容積（升） | 225 | 408 | 600 | 800 | 1000 | ||
內箱尺寸W×D×H(mm) | 500×600×750 | 600×800×850 | 800×800×900 | 1000×800×100 | 1000×1000×1000 | ||
外箱尺寸W×D×H(mm) | 850×1500×2030 | 950×1700×2130 | 1150×1850×2180 | 1250×1750×2180 | 1250×1850×2180 | ||
性能 | 溫度范圍 | -70℃ ～+ 150℃ | |||||
溫度波動度 | ±0.3℃（-20℃～+100℃）±0.5℃（+100.1～+150℃） | ||||||
溫度偏差 | ±1.0℃（-20～+100℃）±1.5℃（+100.1～+150℃) ±1.5℃(-20～+100℃) ±2.0℃(100～+150℃) | ||||||
升溫時間(平均/min) | 非線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性升溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃） | ||||||
降溫時間(平均/min) | 非線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃/25℃）線性降溫速率（5℃/10℃/15℃/20℃） | ||||||
使用環境 | 溫度：+5℃～+35℃；濕度：≤90%RH；大氣壓力：86-106kPa | ||||||
材料 | 外殼 | 材料為熱軋鋼板(表面噴涂處理)或者不銹鋼板SUS304 | |||||
內箱 | 不銹鋼板SUS304 | ||||||
絕熱 | 硬質聚氨酯泡沫 | ||||||
調節器 | 加熱器 | 鎳鉻合金電加熱器 | |||||
制冷方式 | 機械壓縮單級/二元復疊制冷(水冷) | ||||||
制冷壓縮機 | 法國“泰康”全封閉壓縮機或德國“比澤爾”半封閉壓縮機 | ||||||
制冷劑 | R404a/R23 | ||||||
控制器 | 顯示器 | 彩色觸摸屏，液晶顯示器(LCD) | |||||
運行方式 | 程序方式、定值方式 | ||||||
設定方式 | 觸摸式(壓電) | ||||||
設定范圍 | 根據設備的工作溫度范圍調整(上限+5℃，下限-5℃) | ||||||
顯示分辨率 | 時間：0.1min；溫度：0.1℃；濕度：0.1%RH | ||||||
輸入 | 熱電阻 | ||||||
控制方式 | 抗積分飽和PID；BTC配合調溫控制方式 | ||||||
電源 | AC380(1±10%)V (50±0.5)Hz 三相四線+保護地線 | ||||||
標準配置 | 樣品架，引線孔硅膠塞3個，鋼化除霧玻璃3塊 | ||||||
安全裝置 | 漏電保護器，箱內超溫保護器，風機過熱保護，壓縮機超壓、過熱、過流保護，樣品超溫保護，干燒保護器，斷水繼電器，缺相及相序保護 | ||||||
1室溫+25℃和循環水溫+25℃、無試樣條件下測得的數據； 2以上是皓天設備標準型號產品，可根據客戶要求尺寸來訂制，滿足客戶的要求。 | |||||||
皓天TEB系列快速溫變試驗箱技術參數：
滿足試驗方法：
GB/T 2423.1-2008 試驗A：低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法
GJB 150.3A—2009 高溫試驗
GJB 150.4A—2009 低溫試驗
GB/T2423.22—2008 試驗Nb 溫度變化試驗
產品制造標準：
GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB T5170.1-2008 電工電子產業環境試驗設備檢驗方法總則
GB/T5170.2 基本參數檢定方法
