光纖幾何參數測試實驗系統 型號： XRS-GCNFP-B
一、產品簡介
XRS-GCNFP-B型光纖幾何參數測試實驗系統供科研單位、高等學校和實驗室觀察光纖橫截面之用，其放大倍數從50×～400×共6種。用光纖參數（近場）測試光源，對光纖纖芯和包層進行照明。選用電子目鏡，可在微機上觀察，并進行顯微鏡放大率的標定。
二、儀器功能
1、近場測量儀的放大率校準實驗
2、光纖幾何參數測量實驗
（1）纖芯直徑測量實驗
（2）包層直徑測量實驗
（3）纖芯和包層不圓度測量實驗
（4）纖芯和包層的同芯度測量實驗
3、光纖折射率分布曲線測試實驗
4、光纖光強分布現象觀測實驗
1、光源：工作波長：1310±20nm，1550±20nm，輸出功率：>-3dBm；連續可調，輸出端口：FC/PC，穩定性：<0.5dB(5h), <0.1dB(15Min)，光源類型：LD，波長穩定性：<±0.6nm(5h,溫度變化≤2℃)
2、光功率計：波長范圍：800～1700nm，輸入接口：FC，校準波長：850nm,1310nm,1480nm,1550nm
3、偏振控制器：插損：<0.1dB，PDL：<0.1dB
4、固定衰減器：5db，10db
5、可調衰減器：0~30db
6、隔離器：>30dB
7、波分復用器：1*2,1310nm/1550nm
8、光纖耦合器：2*2,1:1
