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          平均粒度測定儀/平均粒度檢測儀

          平均粒度測定儀/平均粒度檢測儀
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          北京西潤斯儀器儀表有限公司
          XRS-WLP-205
          高教
          北京 門頭溝區
          詳細說明

          平均粒度測定儀/平均粒度檢測儀

          平均粒度測定儀 型號;XRS-WLP-205


          XRS-WLP-205平均粒度測定儀是利用空氣透過原理而制成的測量各種材料粉末體表面積平均徑的儀器,又稱費氏儀.該儀器是HAD-WLP-202型儀器的改進型,其特點是測定速度快、操作簡單、重復性好、精度高,被廣泛應用于磁性材料、粉末冶金、硬質合金、鎢鉬材料、陶瓷、建材等工業上。特點如下:

          ★性能穩定,操作簡單,重復性好,選用耐磨金屬研制的費氏泵,工作無噪音,儀器壓力進一步穩定,延長了儀器使用壽命。
          ★儀器的孔隙度由原來
          0.4-0.80擴展到0.25-0.40、0.40-0.80,0.8-0.95。滿足了各種材料粒度測量的需要,與國際上公認的檢測粉末粒度的費氏法接上了軌,并列入了標準和行業標準。

           

          主要指標:

          (1)測量范圍 0.2-50μm(微米)

          (2)空隙度范圍:0.25-0.40, 0.40-0.80, 0.80-0.95

          (3)重復性 ±3%

          (4)電源 ~220V±22V

          (5)功率 30W

          (6)環境溫度 25±10°C

          (7)環境濕度 相對濕度 < 80%

          (8)重量 18kg

          (9)外形尺寸 735×414×244mm

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