JZ-102E型探針測試臺與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數測試及功能調試，適用于科研、新品試制及小批量生產的中間測試。
技 術 指 標 ：
粗調范圍：360°；微調范圍：±10°；小刻劃：1°； 銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
標準配置：主工作臺、顯微鏡、USB接口CCD攝像頭、三維微調座2個、探針臂2支、探針2支。 可選配件：三維微調架、探針臂、探針、真空泵。
可按用戶的實際需求進行訂做。
