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          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列

          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列
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          OmniPL系列
          北京
          詳細說明
          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列




          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列
          典型應用于LED 發光材料、半導體材料的研究。

          OmniPL 系列穩態熒光光譜測量系統采用模塊化設計,在滿足PL 光譜測量的同時,用戶可以根據不同的實驗需求,選擇不同的配件,靈活的進行系統功能的擴展。

          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列

          系統組成:激發光源+ 樣品室+熒光光譜儀+數據采集及處理系統+軟件+計算機
          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列
          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列

          OmniPL-LF325型穩態光致發光光譜系統主要技術參數
          ● 激發光源:HeCd激光器
          ● 激發光功率:20mW
          ● 激發波長:325nm
          ● 瑞利散射截止濾光片,OD>6
          ● 熒光光譜儀光譜范圍:300-850nm(可擴展至2500nm)
          ● 熒光光譜分辨率:優于0.2nm(@1200g/mm光柵)
          ● 波長準確度:±0.2nm
          ● 波長重復性:±0.1nm
          ● 光探測器:科研級制冷型背感光CCD,300-1000nm
          ● 可選配閉循環超低溫制冷機,溫度可達2K
          ● 系統擴展性:系統采用模塊化設計,可擴展至近紅外波段光譜測量
          ● 軟件提供靈活的實驗運行步驟自定義功能,可隨時儲存和提取圖譜,并能夠進行復雜的光譜處理及光譜數據間的四則運算系統結構圖PL圖譜

          組合式熒光光譜測量系統-OmniPL系列

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