影像校正光譜儀 OmniEvo180“優雅型”

         OmniEvo180型光譜儀采用了我公司研發部門的力作Omni-λ180i型影像校正分（imagingspectro
graph）作為分光核心，可獲得更佳的光譜分辨率和光搜集效率；配備可更換的雙光柵塔臺，光柵可以自由選配，使得用戶可在多個不同的波長范圍內擴展操作。作為一款性能優良的光譜儀，它接駁了一臺英國Andor公司的科研級、制冷型的CCD(型號：iVac-DR324B)，能夠輕易的實現熒光、拉曼光譜等弱光探測，光譜范圍覆蓋400-1000nm；用戶另可選配制冷型InGaAs線陣探測器，擴展光譜范圍至近紅外波段的900-1700nm。數據接口采用通用的USB2.0接口，用戶可以通過一臺計算進行波長的掃描、攝譜等操作。
        OmniEvo180型光譜儀擁有優良的光學設計和高靈敏的信號探測能力，是一款理想的光譜探測工具。

OmniEvo180型光譜儀技術規格 型號 ZOV180i-V10 光譜范圍* 400-1000nm 焦距 180mm 相對孔徑 F/3.9 倒線色散 3.68nm/mm(@1200g/mm) 光譜分辨率 0.35nm(@1200g/mm) 波長準確度 ±0.25(@1200g/mm) 波長重復性 ±0.1nm(@1200g/mm) 掃描步距 0.01nm(@1200g/mm) 光柵臺 可換的雙光柵塔臺 光柵規格 40*40mm，進口 光柵參數 1#：1200g/mm刻線@500nm閃耀 2#： 300g/mm刻線@500nm閃耀 像面尺寸 30*10mm 探測器類型 制冷型CCD面陣 有效像素 1650*200 像素尺寸 16*16μm 制冷溫度 -60℃ 讀出噪聲 6.2e@35kHz A/D轉換 16bits 光譜采樣率 >200spectra/s() 計算機接口 USB2.0

OmniEvo180型光譜儀性能特點 體積小，節省空間，便于輕松的進行光學系統的布局經典 的C-T光學結構結合影像校正設計，得到的光學性能 和限度的雜散光可更換雙光柵塔臺設計，可實現更為 靈活的波長范圍和分辨率的選擇出廠前CCD已經過調 校，無需額外復雜的調整機構和程序與卓立漢光現有配件 如光源等完全兼容，可靈活組合成各種光譜檢測系統USB 2.0接口，即插即用 注：一次攝譜范圍依賴于光柵刻線數，見下頁表格

iVac科研級、制冷型CCD

iDus科研級、制冷型背感光CCD
英國Andor公司的iDus-420A型CCD是一款科研級的背感光CCD產品，它采用了Andor公司專有的UltraVacTM真空封裝技術，并特別針對UV波段進行優化，增強了短波探測能力，峰值量子效率達到80%以上。 

iDus CCD技術規格 型號 iDus-DU420A-BU 探測器類型 制冷型背感光CCD面陣 有效像素 1024*255 像素尺寸 26*26μm 像面尺寸 26.6*6.6mm 制冷溫度 -80℃~-100℃（） 讀出噪聲 6e@33kHz 讀出速度 35kHz，50kHz，100kHz 靈敏度 2e，3.5e，14e/count 暗電流 0.002e/pixel/s @-70℃ A/D轉換 16bits 光譜采樣率 > 75spetra/s (Full Vertical Bin) 計算機接口 USB2.0

CCD一次攝譜范圍* 光柵刻線數 OmniEvo180 1200g/mm 100nm 600g/mm 200nm 300g/mm 400nm 150g/mm 800nm