美國 RHK Technology 成立于 1981 年。作為 SPM 工業中的領軍儀器制造商，RHK Technology 始終保持著鮮明的特色：創新性、可靠性、產品設計的開放性與的客戶支持。
憑借著其優異的系統設計、精良的制造工藝、再加上與科學家的緊密合作，二十多年來 RHK Technology 源源不斷地向全科學家們輸送著先進的、高精度的科學分析儀器。
美國 RHK Technology公司 超高真空變溫掃描探針顯微鏡 系列產品包括：
● UHV STM/AFM系統
● 掃描探針顯微鏡表面分析系統
● 超高真空低溫四探針表面分析系統 - UHV LT QuadraProbe
● 超高真空Beetle式變溫變磁場系統 - UHV VT VMF STM/AFM
UHV STM/AFM系統
完整的超高真空 AFM/STM 系統，具有掃描速度快，
震動隔離采用氣柱或者彈簧方式，自動化程度高的特點。
UHV STM/AFM子系統
超高真空 STM/AFM 子系統；樣品變溫范圍從小于 25 K 到大于 1500 K；
配有震動隔離系統；原位針尖替換與轉移；
易于與其他設備連接，從而構建多腔體 SPM 系統。
掃描探針顯微鏡表面分析系統
此系列的產品結合了 RHK SPM 與 Specs 生產的表面分析設備?？梢赃M行多種表面分析操作；操作簡單、實驗結果。RHK Tech.公司已經和Specs公司聯合起來，為全的科學家們提供性能優異的SPM/表面分析聯合系統?？蛻敉ㄟ^從RHK選擇SPM，從Specs選擇各種表面分析設備，自行設計一套表面分析系統。RHK和Specs的工程師們會對該設備進行優化、融合，以達到操作簡便的目的。RHK公司提供給渥太華大學的系統包括了：RHK AFM、LEED/Auger、質譜儀以及Specs公司的XPS設備。
超高真空低溫四探針表面分析系統 - UHV LT QuadraProbe
QuadraProbe四探針表面分析系統保證了樣品和四個STM探針都在10K下長時間穩定工作，每個探針的分辨率都達到了原子分辨。在四個探針上方配有高分辨的SEM，用于對探針的粗定位與導航。樣品分析室中還選配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司將先進的R9控制器配置到四探針系統中，用戶可以非常方面的實現對四個探針的立控制。
超高真空Beetle式變溫變磁場系統 - UHV VT VMF STM/AFM
VMF系列掃描探針顯微鏡系統將變磁場環境引入到表面科學研究與實驗中，無需制冷裝置，即可實現0~10000Gauss面內連續可變磁場環境，在變磁場環境中，AFM/STM的功能和性能不受任何影響；樣品的變溫范圍從25K~1500K。
