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          碳納米管和石墨烯性能表征系統

          碳納米管和石墨烯性能表征系統
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          Applied NanoFluorescence
          NS3
          Applied NanoFluorescence
          高教
          北京
          詳細說明

          碳納米管和石墨烯性能表征系統


            隨著納米技術的不斷發展,碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科研人員的關注。然而,對于碳納米管和石墨烯性能表征一直是困擾碳納米管和石墨烯技術研究和應用的主要障礙。目前,碳納米管和石墨烯測量方法是光譜測量技術。相對其他測量方法,該技術主要有以下的優點:

            1、較高靈敏度,即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能測量。

            2、較高測量精度,對碳納米管的(nm)分辨率很高。

            3、對待測樣品要求低,可直接分析含較多雜質的樣品。

            4、測量設備相對簡單,準備待測樣品非常容易。

            5、數據處理簡單,測量結果無需考慮背景減除。

            對于碳納米管和石墨烯的表征,雖然光譜測量技術有很大的優點,但是測量過程還是有些問題,如獲取數據速度太慢,測量靈敏度不是很高,手工處理數據非常繁瑣且容易出錯等等。的碳納米管專家美國萊斯大學的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授針對這些問題開發了碳納米管專用的測量系統NS3,使得NS3系統成為碳納米管和石墨烯專用測量系統,可對碳納米管和石墨烯進行吸收、熒光和拉曼光譜測量。

          碳納米管和石墨烯性能表征系統

            

          應用領域

            ☆  測量碳納米管(n,m)分布

            ☆  監視碳納米管和石墨烯品質的穩定性

            ☆  測量化學反應和物理作用的動態過程

            

          設備特點

            ☆  高度集成化,體積小巧

            ☆  操作簡單,使用方便

            ☆  僅需要很少的樣品

            ☆  高測量靈敏度和測量速度

            ☆  簡單的操作界面,全自動測量和數據分析

            ☆  同時測量樣品近紅外波長的吸收和發射光譜

            ☆  采用電制冷材料冷卻近紅外光譜探頭,無需使用液氮

            

          基本參數

            熒光光譜測量:

            ☆  可見區發射譜探測范圍:         400-900nm

            ☆  近紅外發射譜探測范圍:         900-1600nm

            ☆  可選近紅外發射譜探測范圍:  -2000nm

            吸收譜測量:

            ☆  紫外吸收譜探測范圍:            210-450nm

            ☆  可見吸收譜探測范圍:            400-900nm

            ☆  紅外吸收譜探測范圍:            900-1600nm

            ☆  可選紅外發射譜探測范圍:      -2000nm

            拉曼光譜測量:

            ☆  拉曼光譜探測范圍:              150-3000cm-1

            ☆  激發光源波長:                    532和/或671nm

          碳納米管和石墨烯性能表征系統

          NS3上的測量結果:碳納米管的近紅外發射光譜

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