摘要：一種鍍層厚度測量儀標定裝置，由底座、傳感器、基塊和數顯千分表構成，數顯千分表和傳感器分別設置在所述的底座的上部的兩端，傳感器的前端設置有螺桿，螺桿上設置有細牙螺紋，基塊一端與傳感器接觸設置，基塊的另一端與數顯千分表接觸設置，基塊的內側設置有壓簧。本實用新型以空氣為介質，通過變更傳感器與基塊的距離來標定產品的刻度值，從根本上改變了用試片標定儀器的方法。
- 專利類型實用新型
- 申請人上海華陽檢測儀器有限公司;
- 發明人莊琴芳;
- 地址200050上海市長寧區昭化路515號
- 申請號CN200620039423.5
- 申請時間2006年02月10日
- 申請公布號CN2869766Y
- 申請公布時間2007年02月14日
- 分類號G01B5/06(2006.01);
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